リチウムイオン2次電池保護ICは高耐圧CMOSプロセスによるリチウムイオン/リチウムポリマ2次電池の過充電、過放電および過電流保護ICです。リチウムイオン/リチウムポリマー2次電池の過充電、過放電、放電過電流、充電過電流及び短絡の検出が可能です。内部回路は電圧検出器、短絡検出回路、基準電圧源、発振回路、カウンタ回路、論理回路等から構成されています。

概要

MM3694シリーズは高耐圧CMOSプロセスによるLiイオン/Liポリマー2次電池の過充電、過放電、過電流及び温度保護用ICです。Liイオン/Liポリマー電池3セル~5セルの過充電、過放電、放電過電流、充電過電流、温度保護を検出することが可能です。内部は電圧検出器、基準電圧源、遅延時間設定回路、論理回路等から構成されています。

  • 3~5セル用

  • (1) 各種検出/復帰電圧の選択範囲と精度
    • 過充電検出電圧 3.6V~4.5V, 5mVステップで選択可能 精度±25mV
    • 過充電復帰電圧 3.4V~4.5V, 50mVステップで選択可能 精度±50mV
    • 過放電検出電圧 2.0V~3.0V, 50mVステップで選択可能 精度±80mV
    • 過放電復帰電圧 2.0V~3.5V, 50mVステップで選択可能 精度±100mV
    • 放電過電流検出電圧1 30mV~300mV, 5mVステップで選択可能 精度±15%
    • 放電過電流検出電圧2 放電過電流1の2倍、4倍 精度±20%
    • ショート検出電圧 放電過電流1の4倍、8倍 精度±100mV
    • 充電過電流検出電圧 -300mV~-20mV, 5mVステップで選択可能 精度±10mV

    (2) 各種検出遅延時間の選択範囲
    • 過充電検出遅延時間 COV端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 過充電復帰遅延時間 COV端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 過放電検出遅延時間 CUV端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 過放電復帰遅延時間 CUV端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 放電過電流検出遅延時間1 DCOC端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 放電過電流検出遅延時間2 DCOC端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • ショート検出遅延時間 100μsec, 200μsec, 300μsec, から選択可能 精度-50% , +100%
    • 放電過電流復帰遅延時間 DCOC端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 充電過電流検出遅延時間 CCOC端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 充電過電流復帰遅延時間 CCOC端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 温度保護ON時間 CIOT端子外付け容量にて可変 精度±50%
    • 温度保護OFF時間 CIOT端子外付け容量にて可変 精度±50%

    (3) SEL端子にて3セル保護用~ 5セル保護用の設定切替が可能

    (4) 0V充電許可/禁止の選択が可能(オプション機能)

    (5) 低消費モード搭載

    (6) 温度検出用レギュレータと温度検出回路を間欠動作にすることで低消費を実現

    (7) 低消費電流
    • VDD端子消費電流(Vcell=4.3V) Typ. 15.0μA, Max. 25.0μA
    • VDD端子消費電流(Vcell=3.5V) Typ. 10.0μA, Max. 20.0μA
    • VDD端子スタンバイ時消費電流1(Vcell=1.8V) Typ. 3.0μA, Max. 6.0μA
    • V5端子消費電流(Vcell=4.3V) Typ. 1.0μA, Max. 2.0μA
    • V5端子消費電流(Vcell=3.5V) Typ. 0.8μA, Max. 1.5μA
    • V5端子スタンバイ時消費電流(Vcell=1.8V) Max. 0.5μA

  • 以下のテーブル内の矢印アイコンを押下していただくと、昇順から降順と順番に切り替わります。

    スクロールできます

    製品名

    パッケージ

    0V 充電

    過充電
    検出電圧
    [V]

    過充電
    復帰電圧
    [V]

    過放電
    検出電圧
    [V]

    過放電
    復帰電圧
    [V]

    放電過電流
    検出電圧1
    [V]

    放電過電流
    検出電圧2
    [V]

    充電過電流
    検出電圧
    [V]

    短絡
    検出電圧
    [V]

    過充電
    検出遅延時間
    [s]

    過充電
    復帰遅延時間
    [ms]

    過放電
    検出遅延時間
    [ms]

    過放電
    復帰遅延時間
    [ms]

    放電過電流
    検出遅延時間1
    [ms]

    放電過電流
    検出遅延時間2
    [ms]

    放電過電流
    復帰遅延時間
    [ms]

    充電過電流
    検出遅延時間
    [ms]

    充電過電流
    復帰遅延時間
    [ms]

    短絡
    検出遅延時間
    [ms]

    高温
    検出温度1
    [℃]

    高温
    復帰温度1
    [℃]

    低温
    検出温度1
    [℃]

    低温
    復帰温度1
    [℃]

    MM3694A02WBH VSOP-24A 許可 4.250 4.150 2.500 3.000 0.1000 0.1600 -0.0500 0.400 1.000 100.0 1000.0 100.0 470.0 47.0 47.00 470.0 47.0 0.200 60 50 0 10
    MM3694A04WBH VSOP-24A 許可 4.225 4.125 2.500 3.000 0.1000 0.1600 -0.0500 0.400 1.000 100.0 1000.0 100.0 470.0 47.0 47.00 470.0 47.0 0.200 60 50 0 10
    MM3694A05WBH VSOP-24A 許可 4.200 4.100 2.700 3.000 0.1000 0.1600 -0.0500 0.400 1.000 100.0 1000.0 100.0 470.0 47.0 47.00 470.0 47.0 0.200 60 50 0 10
    MM3694C01WBE VSOP-24B 禁止 4.380 4.230 2.750 3.050 0.1000 0.1600 -0.0480 0.400 1.000 100.0 1000.0 100.0 470.0 47.0 47.00 470.0 47.0 0.200 60 50 0 10
  • 関連データ

注目製品

ミネベアミツミの半導体が選ばれる理由

開発・設計・製造までの一貫体制で高性能な半導体を提供します

ダウンロード

製品トピックス

産業分野(用途)から探す

サポート・お問い合わせ

各種製品に関するお問い合わせや技術的なご質問、各種資料のお取り寄せなど、各製品担当者がお答えいたします。

PCimageSPimage